M-Z光學干涉儀
- 產品型號：
- 更新時間：2024-06-19
- 產品介紹：M-Z光學干涉儀通過比較被測物和參考物的相位（表現為條紋的變化），從而實現被測物的物理量的測量。
- 在線留言
產品介紹
M-Z光學干涉儀產品說明：
馬赫-曾德干涉儀屬于一種等光程比較干涉。通過比較被測物和參考物的相位（表現為條紋的變化），從而實現被測物的物理量的測量。馬赫-曾德干涉儀通常用于測量透明介質折射率的微小變化，可用于氣體、液體、透明固體、沖擊波及熱傳導等方面的研究。
M-Z光學干涉儀技術參數：
參數 | 大值 | 小值 | 備注 |
視場 | Φ500mm | Φ50mm | |
干涉條紋間距 | 無窮大 | 0.1mm | |
圖像分析軟件 | 滿足干涉條紋背景濾波、二值化、細化與修像、標記、采樣讀數、物理參數計算讀取等功能 | ||
成像傳感器 | 數碼單反相機、高速相機、記錄干板 | ||
光源 | 532nm激光光源、632.8nm激光光源 | ||
其他 | 系統采用有效的減振方式 | ||
- 上一篇：平面激光誘導熒光測速系統
- 下一篇：DISAR全光纖激光干涉測速儀
